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更新时间：2026-09-21
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| 品牌 | 脉锐光电 | 产地类别 | 国产 |
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1650nm SLD 宽带光源
超宽平坦光谱 · 低纹波 · 低相干
SUPERLUMINESCENT DIODE BROADBAND LIGHT SOURCE · 1650 nm · 10 mW
1650 nm 中心波长 ±15 nm 公差 | ≥80 nm 光谱宽度 @10 dB | ≥10 mW 输出光功率 功率稳定性±0.02 dB | <0.5 dB 光谱纹波 谱型平坦 |
产品描述 SLD 宽带光源采用超辐射半导体二极管芯片，以自发辐射放大机制输出低相干、宽光谱的稳定光信号。1650nm SLD 宽带光源工作波长覆盖 1650 nm 近红外宽波段，光谱平坦、相干噪声低，可精准匹配 OCT 成像、分布式光纤传感与光无源器件测试等场景。 核心优势 10 dB 光谱宽度 ≥80 nm 、纹波 <0.5 dB，谱型宽阔平坦；输出光功率 ≥10 mW，功率稳定度 ≤±0.02 dB @15 min。 定制化服务 中心波长、光谱宽度、输出功率、光纤类型与连接头形式等均可按需定制。 |
B1 台式封装 · 255 × 285 × 115 mm
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01 产品特性与应用
产品特性 | 典型应用 | |
— 10 dB 光谱宽度 ≥80 nm | — 光学相干断层扫描（OCT）医学成像 |
超宽平坦光谱的价值 在光学相干测量中，光源光谱宽度直接决定干涉信号的轴向分辨率，纹波与平坦度则决定相干旁瓣与噪声水平。本光源 10 dB 光谱宽度 ≥80 nm、纹波 <0.5 dB，可提供高分辨率、低噪声的稳定宽谱输出。
02 光学指标
表中数值为产品典型值；标注「≥ / ≤ / <」者为规格保证值。光谱宽度按 10 dB 阈值定义。
参数 | 单位 | 典型值 | 备注 |
中心波长 | nm | 1650 | ±15 nm 公差；实测峰值 1640.3 nm |
光谱宽度 | nm | ≥80 | @10 dB；实测 102.2 nm |
输出光功率 | mW | ≥10 | 实测 10.6 mW |
光谱功率谱密度 | dBm/nm | ≥-20 | — |
光谱纹波 | dB | <0.5 | 峰谷起伏 |
短期稳定度（15 分钟） | dB | ≤±0.02 | 等效 ≤±0.5% |
长期稳定度（8 小时） | dB | ≤±0.05 | 等效 ≤±1.2% |
偏振消光比 PER | dB | ≤2 | 低偏振度输出 |
光纤和连接头 | — | G.652d 单模光纤，FC/APC | — |
03 电气和环境参数
参数 | 规格 |
产品封装形式 | B1 台式 |
控制方式 | 触屏 / RS232 串口通信 |
通信接口 | DB9 母口 |
供电要求 | AC 100~240 V |
尺寸（mm） | 255(W)×285(D)×115(H) |
工作温度范围 | -5 ~ +35 ℃ |
工作湿度范围 | 0 ~ 70% |
散热方式 | 内部风冷 |
04 订购信息
典型型号 SLD-1650-10-SM-B | ||||
SLD | 波长范围 (nm) | 光功率 (mW) | 输出尾纤类型 | 封装形式 |
— | 1650 | 10 | SM=单模光纤 | B1=台式 |
注：型号中的 1650 表示中心波长 1650 nm、10 表示输出光功率 10 mW；中心波长、光谱宽度、输出功率、光纤类型与封装形式均可按需定制。
05 机械尺寸
B1 台式外形尺寸：255(W) × 285(D) × 115(H) mm ｜ 接口：OUTPUT、USB、RS232、AC 100~240V
06 实测性能
FIG.01 典型光谱 λC 1631.8 nm ｜ Δλ 102.2 nm @10 dB |
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输出光谱峰值波长 1640.3 nm，10 dB 光谱宽度 102.198 nm（规格保证值 ≥80 nm）；图中 λC 为按 10 dB 阈值功率加权的谱宽中心。测量设备：YOKOGAWA AQ6370C 光谱分析仪。 |
FIG.02 光功率稳定性 P-P ±0.08% ｜ RMS 0.06% |
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连续 60 min 记录的输出光功率（10.6 mW）波动：P-P ±0.08%，RMS 0.06%；对应规格保证值短期 ≤±0.02 dB @15 min、长期 ≤±0.05 dB @8 h。 |
07 实测性能（二）
FIG.03 光谱纹波 <0.5 dB |
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1645~1655 nm 区间的光谱细节（含光谱下降沿），实测纹波(局部峰谷起伏) <0.2 dB。测量条件：SPAN 10 nm，RES 0.1 nm，SENS HIGH1·CHOP；测量设备：YOKOGAWA AQ6375E 光谱分析仪。 |
08 测试条件与使用说明
测试项目 | 测试方法 | 测量设备 |
典型光谱 | OSA 扫描，SPAN 200 nm / RES 0.1 nm | YOKOGAWA AQ6375E 光谱分析仪 |
光谱纹波 | OSA 细扫，SPAN 10 nm / SENS HIGH1·CHOP | YOKOGAWA AQ6375E 光谱分析仪 |
测试条件：环境温度 -5~+35 ℃、相对湿度 0~70%，供电 100~240 V AC；输出经 G.652d 单模光纤、FC/APC 连接头引出。光功率稳定性为连续 60 min 记录结果（P-P ±0.08%、RMS 0.06%）。中心波长与输出功率可通过机身触屏或 RS232 串口（DB9 母口）设置。
数据说明 本文所列测试数据来源于本型号样机的出厂测试记录。鉴于同型号产品的个体差异为客观存在且无法*全消除，本文所列测试数据均为参考值，不构成对产品实际性能的承诺；标注「≥ / ≤ / <」的规格保证值为出厂验收依据。
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